一种集成电路、验证方法及产生特征值调整码的方法[发明专利]

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专利内容由知识产权出版社提供

专利名称：一种集成电路、验证方法及产生特征值调整码的方

法

专利类型：发明专利发明人：翁启舜,郭俊仪申请号：CN201410333632.X申请日：20140714公开号：CN105320581A公开日：20160210

摘要：一种集成电路包括一内建自我测试电路、一预定特征值以及一只读存储器，其中该预定特征值预存于该集成电路中，该只读存储器储存有至少一有效信息以及一内建自我测试特征值调整码，该内建自我测试特征值调整码与该只读存储器中所储存的所有具有功能性的有效信息均不相关；其中该内建自我测试电路用于对该只读存储器中所储存的内容进行测试而产生一特征值，并将该特征值与该预定特征值相比对，以判断该只读存储器中所储存的内容是否有错误。

申请人：瑞昱半导体股份有限公司

地址：中国新竹市

国籍：CN

代理机构：隆天知识产权代理有限公司

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