您的当前位置：首页测试可读写的集成电子电路,尤其是存储器组件的总线接线的方法[发明专利]

测试可读写的集成电子电路,尤其是存储器组件的总线接线的方法[发明专利]

来源：划驼旅游

专利内容由知识产权出版社提供

专利名称：测试可读写的集成电子电路,尤其是存储器组件的总

线接线的方法

专利类型：发明专利

发明人：安德烈亚斯·迪克曼,马库斯·唐德勒申请号：CN98810224.2申请日：19981021公开号：CN1276085A公开日：20001206

摘要：一种测试可读写的集成电子电路,尤其是存储器组件的总线接线的方法。这样来选择地址和数据位测试图样,在写步骤或读步骤序列的第一步骤中,地址位测试图样的位具有第一个二进制数值,而在写步骤序列的第一步骤中数据位测试图样的位具有第二个数值,此后每一步骤从最低位或最高位开始,各相邻位赋值为与上一步骤相比互补的二进制数值,直至在最后一步骤中,地址或数据位测试图样的所有位都具有互补的数值。

申请人：因菲尼奥恩技术股份公司

地址：德国慕尼黑

国籍：DE

代理机构：柳沈知识产权律师事务所

代理人：侯宇

更多信息请下载全文后查看

因篇幅问题不能全部显示，请点此查看更多更全内容

查看全文