集成电路和用于集成电路的存储器自我测试方法[发明专利]

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专利名称：集成电路和用于集成电路的存储器自我测试方法专利类型：发明专利发明人：张适纬,王嘉维申请号：CN201510493194.8申请日：20150812公开号：CN1069832A公开日：20160406

摘要：本发明实施例公开了集成电路及用于集成电路的存储器自我测试方法，其中，所述集成电路包括：一核心电路，用于执行所述集成电路的操作；一存储器，用于存储一子系统和一修复系统，当所述修复系统运行时，所述修复系统检测所述存储器是否存在故障，当所述修复系统检测到所述故障，修复所述故障，而当所述修复系统没有检测到所述故障，向所述存储器中注入一假故障用来验证所述修复系统是否运行正确。本发明实施例可以检测并修复嵌入式存储器的故障以及验证修复系统本身是否失败。

申请人：联发科技股份有限公司

地址：中国新竹科学工业园区新竹市笃行一路一号

国籍：CN

代理机构：深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙)

代理人：何青瓦

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