一种芯片量产测试系统及方法[发明专利]

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专利名称：一种芯片量产测试系统及方法专利类型：发明专利发明人：刘一杰,李建军,莫军申请号：CN202010158178.4申请日：20200309公开号：CN111366842A公开日：20200703

摘要：本发明公开了一种芯片量产测试系统，包括：第一功能寄存器、第一选择器、存储器、第二选择器、第二功能寄存器、旁路寄存器和控制器；第一功能寄存器的输出端与第一选择器的第一输入端连接；第一选择器的输出端分别与存储器以及旁路寄存器的输入端连接；旁路寄存器的输出端与第二选择器的第二输入端连接；存储器的输出端分别与第二功能寄存器的第以输入端和控制器的输入端连接；第二寄存器的输入端与第二选择器的输出端连接；控制器的输出端与第一选择器的第一输入端连接，控制器的输入端与存储器的输出端连接。本发明提供的一种芯片量产测试系统，能够使芯片的内建自测试和低速扫描并行运行，有利于提高芯片量产老化测试的效率。

申请人：广芯微电子(广州)股份有限公司

地址：510000 广东省广州市中新广州知识城九佛建设路333号378房

国籍：CN

代理机构：广州三环专利商标代理有限公司

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